구 세타오: 중국 국적, 해외 영주권 없음, 198 1 년 5 월 출생. 200 1 년 7 월 푸젠공학대학원 응용전자기술학과 대학 학력을 졸업했습니다. 경력: 2005 년 4 월부터 20 10 까지 동관시 신원전자유한공사에서 부사장으로 근무했습니다. 20 14 12 지금까지 동관 동기 부여 소프트웨어 기술 유한 회사 감독자로 재직했습니다. 20 16 부터 1, 동관시 양지투자관리파트너 (유한파트너) 집행사무파트너 20 17 년 4 월 ~ 20 18 년 5 월 동관시 리양 칩 테스트 유한 회사 매니저 (로그아웃) 로 재직했습니다. 2020 년 7 월 2 일부터 동관시 리양 (동성시) 감사로 재직했습니다. 20 10 년 2 월 현재 회사에서 근무하고 있으며 현재 이사, 이사회 비서입니다. 구 세타오 씨는 반도체 집적 회로 테스트 산업에 종사해 15 년 이상 주로 칩 양산을 위한 테스트 솔루션을 연구하고 있다. SoC, 고급 MCU, 지문 인식, AI, IoT, MEMS 등의 분야에서 풍부한 R&D 및 실무 경험을 보유하고 있습니다. 광학 지문 인식, 테스트 통합, 무선 주파수 등의 프로젝트 개발을 주도하며 지문 칩 전용 테스트 장비, 고급 프로세스 이산성 테스트 등 개발 프로젝트의 주요 책임자로 활동하고 있습니다.