2) 한동, 장약비, 장택, 단일 나노선 현장 역학 성능 테스트 및 구조 분석 방법 및 장치.
3) 한동, 악영해, 장약비, 장택, 나노 소재의 현장 구조 성능 테스트를 위한 투과전경 슬라이드.
4) 한동, 악영해, 장약비, 장택, 투과전경나노재료 응력 테스트망.
5) 한동, 악영해, 장택, 응력 상태에서 저차원 재질 성능 테스트 장치.
6) 한동, 악영해,, 장택, 압전 세라믹 조각으로 구동되는 스캔글라스의 나노 물질 스트레칭 장치.
7), 성암, 켈리, 장택,,,,, 장정, 폰, 상전이 저장에 사용됩니다.
장치 용 SiSbTe 시리즈 상 변화 박막 재료
8) 한동, 장약비, 모성성, 장택, 스캔 전자현미경, 전자등 산란사 현장 스트레칭 장치 및 측정 방법.
9) 한동, 정곤, 장택, 투과전경으로 나노선 역학과 전기적 성능 테스트 장치를 제자리에서 늘린다.
10) 한동, 정곤, 장택, 투과 전자현미경으로 나노 와이어 역학 및 전기적 성능 테스트 장치를 제자리에서 압축했다.
1 1) 한동, 장약비, 장택, 스캔글라스 속 나노선의 제자리 스트레칭 장치 및 방법.
12) 장택, 켈리, 유안, 한동동, 상전이 물질을 기반으로 한 투과전경전측망.