没有影响，对仪器本身不会造成损坏。下面是X荧光膜厚仪的操作流程,

X荧光测厚仪是一种基于X射线荧光原理的涂层厚度测量仪器。以下是使用X荧光测厚仪测试涂层厚度的步骤：

准备工作：

取出X荧光测厚仪，确保仪器已充满电或接好电源，并检查仪器是否完好。

清洁待测样品表面，确保表面干净、平整，无杂质、灰尘或油污等。

设置测量参数：

打开X荧光测厚仪的电源开关，进入测量模式。

根据待测涂层的类型和厚度范围，选择合适的测量参数，如元素谱线、电压和电流等。

进行测量：

将X荧光测厚仪的测量探头放置在待测涂层表面附近，确保探头与涂层表面紧密接触，无明显间隙。

按下测量按钮，仪器会自动进行X射线荧光测量，并记录涂层的厚度数据。

读取结果：

X荧光测厚仪的显示屏会显示测量结果，包括涂层厚度、测量单位、测量误差等信息。可以根据需要进行记录和数据处理。

结束测量：

完成测量后，关闭X荧光测厚仪的电源开关，取下测量探头，整理好仪器和附件，存放于指定位置。

在用X荧光测厚仪测试涂层厚度时，需要注意以下几点：

清洁样品表面：为保证测量的准确性，需要确保样品表面干净、平整，无杂质、灰尘或油污等。

选择合适的测量参数：根据待测涂层的类型和厚度范围，选择合适的测量参数，如元素谱线、电压和电流等。

保持稳定的测量条件：在测量过程中，应保持测量探头与涂层表面稳定接触，避免探头移动或受力不均导致测量结果不准确。

定期进行仪器校准和维护：为保证仪器的准确性和稳定性，需要定期进行仪器校准和维护。

总之，在使用X荧光测厚仪测试涂层厚度时，需要根据具体的测量需求和样品特性选择合适的测量方法和参数。同时，注意保持仪器的清洁和稳定的工作状态，以获得准确的测量结果。