外延厚度不是薄膜。外延厚度是指固体材料在衬底上生长的厚度，不是薄膜。椭偏仪是一种用于检测薄膜的厚度、光学常数和材料微观结构的光学测量设备。椭偏仪只能测量薄膜的光学常数，无法直接测量材料的物理厚度。所以椭偏仪不能测外延厚度，是因为外延厚度不是薄膜。

使用椭偏仪注意事项：在使用时，遵循严格的安全操作规程，特别是在观察强烈的光源时要注意保护眼睛。