晶圆测试探针台上下移动左右针偏的原因如下：

1、探针台机械问题：上下移动和左右移动探针台时，探针台出现偏移，是由探针台部件误差或者使用寿命、加工质量较差等原因导致，更换或维修探针台部件以解决该问题。

2、半导体晶圆加工质量问题：探针接触半导体晶圆表面时，如果晶圆表面不平滑，探针可能会产生针偏现象。

3、软件程序或操作问题：上下移动和左右移动探针台时，操作人员没有正确执行相关的程序或者操作方式不当，针偏的情况会发生。

晶圆测试探针台是半导体制造过程中进行电学测试的设备之一。其主要作用是将测试针头与晶圆表面接触，进行电学参数测试，如电阻、电容等。